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作者：光譜儀2017-05-16 20:48:36根據現代光譜儀器的工作原理，光譜儀可以分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀.經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進光.

根據色散組件的分光原理，光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理， 存儲諸功能于一體.由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改變，大大改善了工作條件，光譜儀價格，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測.關于榮高公司簡介企業文化發展歷程榮譽資質 產品中心RG-N60火花直讀光譜儀RG-N68火花直讀光譜儀RG-N6000臺式直讀光譜儀RG-N75直讀光譜儀美國i-CHEQ i-5000手持式X熒光光譜儀RG-8800高頻紅外碳硫分析儀 新聞動態行業動態企業動態公司公告 售后服務客戶培訓操作指南 聯系我們聯系方式在線留言

X射線熒光光譜儀原理圖

X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)儀的原理主要基于：原子受到X射線的作用，其內層電子被激發，形成空穴，原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態，原子的外層電子會躍遷回內層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測器檢測到，通過此來做分析。通常，可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。共元素干擾在日常的分析工作中，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、加乘波峰、逃離波峰。

（1）兩相近共元素干擾：由于兩元素在能譜圖上的位置相近，銅仁光譜儀，以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。

（2）加乘波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在能譜兩倍的位置上出現一根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kv)，會在能譜12.8Kv處出一根小波峰。造成誤判。但此種情形極為少見。

（3）逃離波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在此元素的能譜位置前一個硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判，但情形極少出現。如錫(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈鎘(Ka23.17 Kv)。

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作為精密的檢測儀器，我們更習慣稱三次元測量儀為三坐標測量機，這是因為，三次元測量儀在對工件進行測量的過程中，主要就是通過建立坐標系，從而來完成測量任務，光譜儀原理，所以我們也將其簡稱為三坐標。 　　當我們建立三次元測量儀坐標系進行測量時，如何確定坐標系的正確呢？有什么具體的方法去檢查三坐標測量機的坐標系的正確性？下面，我就簡單的介紹一下。

　　檢查三次元測量機坐標系建立的正確性的具體方法是：將軟件顯示坐標置于“零件坐標系”方式，用操縱桿控制測量機運動，使寶石球盡量接近三坐標測量儀零件坐標系零點，觀察坐標顯示，然后按照設想的方向運動測量機的某個軸，觀察坐標值是否有相應的變化，如果偏離比較大或方向相反，那就要找出原因，重新建立三次元測量儀坐標系。

　　用三個基準球完全可以把模具的基準坐標系保持下來。

　　1、用測量的三個基準球的球心構造平面，用其中兩個球心構線，用其中一個球心為原點，可以建立一個零件坐標系。

　　2、在三次元測量儀零件坐標系下測量基準元素，用各種方法可以得出基準元素與當前零件坐標系的關系（軸的夾角、原點的距離）。

　　3、得出三次元測量儀兩個坐標系的差別后，在建立三個基準球構造的坐標系后，通過旋轉兩個坐標軸的角度，平移原點一段距離，即可恢復到基準坐標系。

　　三次元測量儀的坐標系在三坐標進行檢測時，發揮著重要的作用，所以我們對坐標系的建立也要十分的慎重，這樣才能更好的完成三次元的測量任務。

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